球柵陣列(BGA)作為電子封裝技術(shù)的一種，具有高密度、高可靠性和優(yōu)良的電性能等特點(diǎn)，廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體芯片、微電子器件等領(lǐng)域.然而，在BGA的生產(chǎn)和應(yīng)用過程中，可能會(huì)出現(xiàn)各種質(zhì)量問題，如焊球共面性不良、焊球拉脫力不足等，這些問題會(huì)嚴(yán)重影響產(chǎn)品的性能和可靠性。因此，對(duì)BGA進(jìn)行嚴(yán)格的測(cè)試和質(zhì)量控制至關(guān)重要。

測(cè)試原理

球柵陣列(BGA)測(cè)試原理主要涉及對(duì)BGA封裝芯片的焊球共面性和焊球拉脫力進(jìn)行綜合評(píng)估。焊球共面性測(cè)試通過測(cè)量焊球頂點(diǎn)與基準(zhǔn)平面之間的距離差值，確保焊球與基板接觸良好，避免焊接缺陷；而焊球拉脫力測(cè)試則通過施加垂直于器件表面的拉力，測(cè)量焊球與基板之間的結(jié)合強(qiáng)度，以評(píng)估焊接質(zhì)量和可靠性。通過這兩種測(cè)試方法，可以全面檢測(cè)BGA封裝芯片的質(zhì)量，確保其在電子設(shè)備中的穩(wěn)定性和可靠性，并根據(jù)測(cè)試結(jié)果進(jìn)行工藝優(yōu)化、材料控制和設(shè)備維護(hù)等質(zhì)量控制措施，提高產(chǎn)品的性能和可靠性。

測(cè)試目的

焊球共面性測(cè)試的目的是測(cè)定BGA焊球的共面度，即焊球頂點(diǎn)與基準(zhǔn)平面之間的距離差值.共面度是衡量BGA焊接質(zhì)量和可靠性的重要指標(biāo)之一，共面度不良會(huì)導(dǎo)致焊接時(shí)焊球與基板接觸不良，進(jìn)而引發(fā)焊接缺陷，如虛焊、短路等，影響電子器件的性能和可靠性.